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超高频RFID电子标签全性能测试系统

产品型号:JX-R1200


系统简介

聚星超高频RFID电子标签全性能测试系统基于PXI矢量射频模块和 FPGA基带模块,集成了自主研发的RFID测试软件,具有内建的RFID协议栈,能够实时发射并采集RFID通讯的射频信号,进行完整的性能参数的测试与分析。本测试系统结合了先进的模块化仪器和软件无线电技术,具有软件自定义的特点,支持的超高频标准包括:ISO/IEC 18000-6C、EPC UHF C1G2、GS1 TIPP、GB/T 29768、GJB 7377.1,而且只需要通过软件升级的方式,就可以支持其他标准的产品测试。

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主要功能

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